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“光轴平行性标定系统及标定方法”获发明专利授权

时间:2016-09-05  来源:文本大小:【 |  | 】  【打印

  随着科学技术的发展,光电设备功能更加丰富,性能指标更高,光学设备的光谱几乎覆盖了可见光到红外的全部波段,不仅能够获得目标的物理特性参数还可以获得目标的光谱特性信息。对于这种集多种光学仪器于一体的设备,光轴的平行度是一个重要性能参数,在保证系统精度和准确性方面起着至关重要的作用。  

  西安光机所检测中心田留德、赵建科、周艳针对此问题,研究出一种光轴平行性标定系统及标定方法,并于近期获得国家发明专利授权。 

  该方法测试设备简单,只需要利用常用的光学检测反射镜和自准直经纬仪,不需要笨重、复杂、昂贵的设备,即经济又方便:测试步骤简单、过程变量少,测量精度高,数据处理过程简单,实时性好,不仅可以用于多光轴平行度的标定,也使用于多传感器系统的装调:应用领域广,该方法不仅适用于多光轴光电设备的光轴平行性测试与标定,还适应于多个平行光管光轴的平行度测试:适应性强,该方法不受各种传感器之间的距离及各传感器口径的限制,可以用小口径的自准直经纬仪实现多个任意距离、任意口径光电传感器之间的光轴平行性测试。(科管部供稿)